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微米纳米新型微电子器件可靠性技术发展方向研讨
王长河
质量与可靠性
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1998年4月
测试软件:未来的挑战
蔡少英
测试技术
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2005-1
2001年国际半导体测试和测试设备技术路线图(5)
蔡少英
测试技术
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2004-6
用于卫星辐射环境的商业微电子技术(上)
蔡少英
军民两用技术(COTS)
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2004-6
2001年国际半导体测试和测试设备技术路线图(6)
蔡少英
测试技术
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2004-7
集成电路设计的可靠性模拟
蔡少英
建模与仿真技术
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2004-7
用于卫星辐射环境的商业微电子技术(中)
蔡少英
军民两用技术(COTS)
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2004-7
用于卫星辐射环境的商业微电子技术(下)
蔡少英
军民两用技术(COTS)
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2004-8
通过设计提高集成电路对太空辐射的抵抗力
蔡少英
集成电路(IC)
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2004-9
复合半导体电子产品的现状、挑战和未来的机遇
蔡少英
技术发展/趋势
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2004-9
集成电路电磁兼容标准概述
蔡少英
电磁兼容(EMC)
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2004-10
RF MEMS技术的发展
蔡少英
MEMS器件
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2004-10
GaAs:无线技术的未来(与过去)
蔡少英
技术发展/趋势
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2004-10
英国国防部精明采购计划及其对COTS在军用装备中应用的影响
蔡少英
军民两用技术(COTS)
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2004-11
可靠性方法与REMM过程的比较
蔡少英
可靠性增长/预计
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2004-11
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